 DFT設(shè)計(jì)流程與Syntest DFT解決方案培訓(xùn) |
| 入學(xué)要求 |
|
學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識(shí)：
◆ 電路系統(tǒng)的基本概念。 |
|
班級(jí)規(guī)模及環(huán)境 |
|
為了保證培訓(xùn)效果，增加互動(dòng)環(huán)節(jié)，我們堅(jiān)持小班授課，每期報(bào)名人數(shù)限3到5人，多余人員安排到下一期進(jìn)行。 |
|
上課時(shí)間和地點(diǎn) |
上課地點(diǎn)：【上海】：同濟(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號(hào)線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號(hào)線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】：北京中山學(xué)院/福鑫大樓 【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路） 【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號(hào)（中和大道） 【沈陽分部】：沈陽理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】：鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】：河北科技大學(xué)/瑞景大廈
最近開課時(shí)間(周末班/連續(xù)班/晚班）： DFT設(shè)計(jì)培訓(xùn)班：2025年6月9日........--即將開課--...................... |
|
學(xué)時(shí) |
◆時(shí)長： 共一個(gè)月
◆外地學(xué)員：代理安排食宿（需提前預(yù)定）
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費(fèi)推薦工作
☆合格學(xué)員免費(fèi)頒發(fā)相關(guān)工程師等資格證書，提升您的職業(yè)資質(zhì)
專注高端培訓(xùn)15年，曙海提供的證書得到本行業(yè)的廣泛認(rèn)可，學(xué)員的能力
得到大家的認(rèn)同，受到用人單位的廣泛贊譽(yù)。
★實(shí)驗(yàn)設(shè)備請點(diǎn)擊這兒查看★ |
|
最新優(yōu)惠 |
|
◆團(tuán)體報(bào)名優(yōu)惠措施：兩人95折優(yōu)惠，三人或三人以上9折優(yōu)惠 。注意：在讀學(xué)生憑學(xué)生證，即使一個(gè)人也優(yōu)惠500元。 |
|
質(zhì)量保障 |
|
1、培訓(xùn)過程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽；
2、培訓(xùn)結(jié)束后免費(fèi)提供半年的技術(shù)支持，充分保證培訓(xùn)后出效果；
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會(huì)。 ☆合格學(xué)員免費(fèi)頒發(fā)相關(guān)工程師等資格證書，提升您的職業(yè)資質(zhì)。專注高端培訓(xùn)13年，曙海提供的證書得到本行業(yè)的廣泛認(rèn)可，學(xué)員的能力得到大家的認(rèn)同，受到用人單位的廣泛贊譽(yù)。 |
|
DFT設(shè)計(jì)流程與Syntest DFT解決方案培訓(xùn) |
| 隨著現(xiàn)代數(shù)字電路的規(guī)模的日益增大，速度的日益提高，測試成本已成為了一個(gè)芯片設(shè)計(jì)與生產(chǎn)中不可忽視的環(huán)節(jié)，而DFT(Design For Test)技術(shù)，作為一種有效的降低測試成本的手段已被大多數(shù)設(shè)計(jì)公司所認(rèn)可。 |
1，DFT service alliance announcement
2，TurboBIST-Sram and TurboBSD flow
3，Syntest DFT design flow introduce
4，Testcase for TurboBIST-memory & TurboBSD
5，DFT introduce & trend
6，TurboDFT for BScan/MemoryBist integration
7，TurboScan introduce 1
8，Demo and test case for TurboScan
9，Lab/QA
10,Full?Scan?and?ATPG?Flow
11,
Configuring?Scan?Chains/Test?Logic?and?Full?Scan?Flow
12,
Understanding?ATPG?Messaging
13, Achieving High Test Coverage
14, Testing for High Quality
15, SCAN & ATPG Lab
16, Memory Test and BIST concept introduction
17, BIST Insertion and Pattern Translation
18, BIST Generation and Integrated with Boundary Scan |
首 頁 
